X-RAY膜厚儀

詳細資料請致電：13761400826美國賽默飛世爾ThermoFisher（熱電）公司MicronX利用X-射線熒光的非接觸式的無損測試技術完美地用于微電子學、光通訊和數據貯存工業的金屬薄膜測量�？梢酝瑫r測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從A(埃)至μ(微米)，他也能測量多至20個元素的塊狀合金成分。其光束和探測器的巧妙結合加上高級的數字處理技術使得MicronX能最佳地解決你的應用。結果是ASIM（應用專用儀器測量）在準確度、精。 詳細介紹>>