白光干涉儀，掃描白光激光干涉顯微儀

掃描白光干涉顯微儀產品特點及用途結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含：●晶體（Wafer）●光盤/硬蝶（DVDDisk/HardDisk）●平面電組件（MEMSComponents）●平面液晶顯示器（LCD）●高密度線路印刷電路板（HDIPCB）●IC。 詳細介紹>>