EF－VS800系列三維光學掃描測量儀

EF－VS800系列三維光學掃描測量儀，是結合工業設計、生產中的實際情況開發的，應用于三維復雜曲面逆向設計和三維全尺寸檢測的應用系統。系統采用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大�。◤�150mm到3米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際最先進水平，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響�。üぜ�一般不需要噴顯影劑），而且能夠測量表面劇烈變化的工件，三維光學掃描。 詳細介紹>>