G200M激光平面干涉儀

詳細介紹G200M型平面干涉儀:為中國首款標準鏡有效口徑達到200mm的平面干涉儀，改善提高了大口徑光學系統和光學元件測試精度，彌補了國內使用有效口徑150mm的干涉儀測試大尺寸光學系統和光學元件，不能全口徑測試的不足。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試；準直系統波前質量的測試。儀器規格參數表產品型號G200M類型菲索干涉原理測試口徑◇200mm標準鏡材料熔石英（康寧7980）光源He-Ne激光（632.8nm）光路切換對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換顯示方式計算機或獨立監視器實時顯示平面透過標準鏡PV：優于λ/20，可定制更高精度標準鏡平面反射標準鏡標配衰減過濾片標配儀器尺寸(長X寬X高)500X500X1100mm儀器重量100KG電源AC100-240V50/60Hz（附注：更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制）儀器特點◇精度高：標準鏡精度高，且材料經過精密退火處理，穩定可靠；◇結構靈活：立式和臥式兩種結。 詳細介紹>>