手機干涉儀S5U-PH

S5U-PH激光干涉儀S5U-PH激光干涉儀為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制，可以滿足條紋非常密集、超大像差（PV值非常大）狀況下的準確測量。一、儀器規格參數S5U-PH激光干涉儀為3D屏及全面屏攝像孔檢測而定制，可以滿足條紋非常密集、超大像差（PV值非常大）狀況下的準確測量。儀器規格參數表硬件部分：產品型號S5U-PH產品名稱5mm正立式激光干涉儀測試口徑Φ5mm輔助對準口徑Φ30mm標準鏡面形精度λ/20光源進口半導體激光器（635nm)光路切換輔助觀察（Φ30mm大視場）與測試（Φ5mm小視場）模式電控切換電源AC220V50HZ軟件部分：軟件名稱移相算法（簡稱PH）分析項目透過波前PV值、平行度Tilt值等測試重復性PV：0.01λRMS:0.003λ測試允許誤差PV<1λ時PV：0.05λTilt：0.25fr（零場調整為1根條紋）1λ<PV<2λ時PV：0.1λTilt：0.5fr（零場調整為1根條紋）測試時間1.5秒 詳細介紹>>