產品名稱：HL-XLE-2
所屬分類：金相顯微鏡
產品品牌：HLEO
產品簡介：XLE-2型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的。主體為：正置式、三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監視器直接觀察�？蛇B接計算機打印報告、照片或連接數碼相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，存儲、查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 檢測顯微鏡具有獨特的特點： 1）放大倍數：40倍至500倍； 2）超大型載物臺，樣品可作大范圍的縱、橫方向快速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。 |
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主要技術參數
1.機械筒長 160mm
2.物鏡
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放大倍數
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數值孔徑
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有效工作距離（mm）
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介質
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4×
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0.10
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17.912
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干
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10×
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0.25
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6.544
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干
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20×
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0.40
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1.05
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干
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40×
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0.65
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0.736
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干
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3.目鏡
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放大倍數
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焦距
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視場直徑
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備注
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10×
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25
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18
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12.5×
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25
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14
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選配
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4.放大倍數 40×--400×
5.載物臺面積 350mmX255mm
縱向移動范圍---200mm
橫向移動范圍---200mm
6.粗微動調焦范圍 25mm,微調轉動一圈樣品升降0.2mm,格值
0.002mm
7.光源 鎢鹵素燈6V20W。內藏式連續調光電源
8.物鏡轉換器 四孔式 (三孔式)
9.目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡)
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注：聯系我時，請說是在“傲立機床網”上看到的，謝謝！
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