金相顯微鏡

產品名稱：HL-XLE-2所屬分類：金相顯微鏡產品品牌：HLEO產品簡介：XLE-2型大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的。主體為：正置式、三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。上部安裝彩色攝像機連接彩色監視器直接觀察�？蛇B接計算機打印報告、照片或連接數碼相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，并建立技術檢測檔案，存儲、查詢，可省去復雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。檢測顯微鏡具有獨特的特點：1）放大倍數：40倍至500倍；2）超大型載物臺，樣品可作大范圍的縱、橫方向快速移動，擴大檢測領域的使用范圍，適用于電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。【產品概述&參數】主要技術參數1.機械筒長160mm2.物鏡放大倍數數值孔徑有效工作距離（mm）介質4×0.1017.912干10×0.256.544干20×0.401.05干40×0.650.736干3.目鏡放。 詳細介紹>>